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高压放大器基于干涉仪的设计与优化中的应用

发布:2021-08-20

实验名称:高压放大器基于扫描式固体腔f-p干涉仪的设计与优化中的应用

实验目的:优化设计扫描式固体腔f-p干涉仪

实验设备:光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动)4f系统和ccd,信号源,ata-2161高压放大器,示波器。

实验内容:为实现全天时边界层内大气温度绝对探测,即精细获取大气rayleigh散射谱形,借鉴f-p干涉滤波技术和晶体的电光特性,设计了一种扫描式固体腔f-p干涉仪,测试其滤波性能并进行优化。

实验过程:如图是搭建的透射型马赫曾德干涉仪光路,此光路用做全息图的记录,主要包括以下几个部分:光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动)、4f系统和ccd。

高压放大器应用 

测量晶体内部均匀性和折射率调制度关系的系统图

电光晶体高压驱动,函数发生器,使其产生一个脉冲方波信号,然后经过ata-2161高压放大器使其放大,最终把放大后的信号加载到晶体上,完成晶体电光性能的测试。  

 高压放大器应用

电光晶体高压模块标定

实验结果:

1)不同电压下ccd上记录的全息图

 ata-2161高压放大器

2)不同电压场下,对应晶体折射率的改变量

对图相位图中晶体相位的改变量进行平均处理,得到不同电压场下,对应的晶体的相位改变量,再由公式计算得出,不同电压场下,对应晶体折射率的改变量。

高压放大器应用 

相位调制和折射率调制度实测值与理论值的对比 

本文实验素材由西安安泰电子整理发布,如想了解更多实验方案,请持续关注安泰凯发真人网娱乐官网www.aigtek.comaigtek是国内专业从事测量仪器研发、生产和销售的高科技企业,一直专注于高压放大器、线束测试仪、计量校准源等测试仪器产品的研发与制造。

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